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    IGBT|SiC功率半導(dǎo)體器件測試設(shè)備

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    品 牌: 普賽斯儀表 
    單 價(jià): 1000.00元/臺(tái) 
    起 訂: 1 臺(tái) 
    供貨總量: 10000 臺(tái)
    所在地: 湖北 武漢市
    有效期至: 長期有效
    最后更新: 2024-12-18 08:56
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    產(chǎn)品詳細(xì)說明
     普賽斯IGBT|SiC功率半導(dǎo)體器件測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級(jí)精確測量、nA級(jí)電流測量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢18140663476

     

     

    靜態(tài)-片頭

    IGBT測試系統(tǒng)圖

     

     

     

        普賽斯功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)配置由多種測量單元模塊組成,系統(tǒng)模塊化的設(shè)計(jì)能夠極大方便用戶添加或升級(jí)測量模塊,適應(yīng)測量功率器件不斷變化的需求。

     

     

     

    “雙高”系統(tǒng)優(yōu)勢

     

        高電壓、大電流

     

        具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達(dá)3500V(蕞大可擴(kuò)展至10kV)

     

        具有大電流測量/輸出能力,電流高達(dá)6000A(多模塊并聯(lián))

     

        高精度測量

     

        nA級(jí)漏電流, μΩ級(jí)導(dǎo)通電阻

     

        0.1%精度測量

     

        模塊化配置

     

        可根據(jù)實(shí)際測試需要靈活配置多種測量單元系統(tǒng)預(yù)留升級(jí)空間,后期可添加或升級(jí)測量單元

     

        測試效率高

     

        內(nèi)置專用開關(guān)矩陣,根據(jù)測試項(xiàng)目自動(dòng)切換電路與測量單元

     

        支持國標(biāo)全指標(biāo)的一鍵測試

     

        擴(kuò)展性好

     

        支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具


    測試項(xiàng)目
    集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
    集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
    柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
    輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容
    續(xù)流二極管壓降Vf
    I-V特性曲線掃描,C-V特性曲線掃描等


    IGBT|SiC功率半導(dǎo)體器件測試設(shè)備就找普賽斯儀表咨詢,詳詢一八一四零六六三四七六;PMST系列功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng),是普賽斯儀表經(jīng)過精心設(shè)計(jì)與打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅具備IV、CV、跨導(dǎo)等多元化的測試功能,還擁有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計(jì)以及便捷的升級(jí)擴(kuò)展等顯著優(yōu)勢。它能夠全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導(dǎo)體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數(shù)表征和測試需求,確保測量效率、一致性與可靠性的卓越表現(xiàn)。
    此外,普賽斯儀表功率半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試解決方案還支持交互式手動(dòng)操作或結(jié)合探針臺(tái)的自動(dòng)操作,能夠在整個(gè)表征過程中實(shí)現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征。同時(shí),該方案還可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。從pA級(jí)、mV級(jí)高精度源表到kA級(jí)、10kV源表,普賽斯的產(chǎn)品解決了國內(nèi)企業(yè)在半導(dǎo)體芯片以及第三代半導(dǎo)體芯片測試中的儀表國產(chǎn)化問題,并在客戶IGBT產(chǎn)線上推出了多條測試示范線,引領(lǐng)了國內(nèi)IGBT測試的技術(shù)潮流。


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